参加者へのご案内

0.参加について

(1)受付
仙台国際センター展示棟ホワイエにて、6月14日(火)8:30より受付を行います。
お支払いは現金のみとなります。
(2)Webからの事前参加登録がお済みの方
事前登録受付にてお名前をお伝えください。学術講演会の参加証兼領収書をお渡しいたします。また、発表要旨集を予約されている方には、発表要旨集をお渡しいたします。
(3)Webからの事前参加登録がお済みでない方
会期当日に受付にて当日参加申込書を記入の上、当日参加登録を行ってください。

1.参加登録方法

参加登録ページより、マイページ用のID(会員番号)・パスワードでログインの上、インターネットにてお申込ください。

【お支払方法】

参加申込時にクレジット決済を選択いただきますと、登録完了とともに決済も完了いたします。
  • ※クレジット決済を選択された場合、一度入力した内容は変更できませんのでご注意ください。また、ご利用内容欄の表記が「国際文献事務センター」となりますのでご了承ください。
    郵便振替を選択いただいた場合には、郵便局に備え付けられております、青色の払込取扱票に参加受付番号(自動配信メールにてお知らせいたします)、住所、氏名をご記入の上、お振込みください。

振込先郵便振替:公益社団法人日本顕微鏡学会
口座番号:00140-5-781793
他金融機関からの振込の場合
店名〇一九(ゼロイチキュウ)(店番019)
当座0781793

  • ※入金締切日(5月18日(水))を過ぎた場合は、事前参加登録は取消となり、学術講演会会場にて当日参加登録および懇親会申込を受付けます。
    お支払いいただいた費用の返金はいたしません。

(1)学術講演会参加費

  早期登録
2016年4月14日(木)
まで
通常登録
2016年4月15日(金)
~ 5月16日(月)
および当日登録
日本顕微鏡学会正会員 10,000円 12,000円
連携学会員:
 日本生物物理学会
協賛学会員:(交渉中含む)
 医学生物学電子顕微鏡学会
 応用物理学会
 軽金属学会
 日本バイオイメージング学会
 日本化学会
 日本解剖学会
 日本金属学会
 日本結晶学会
 日本工学会
 日本細胞生物学会
 日本材料科学会
 日本組織細胞化学会
 日本鉄鋼協会
 日本表面科学会
 日本病理学会
 日本物理学会
 日本分析化学会
 日本臨床分子形態学会
10,000円1) 12,000円1)
一般非会員 13,000円1) 15,000円1)
学生 日本顕微鏡学会学生会員 無料 無料
非会員(学部学生・大学院生) 1,000円2) 1,000円2)

1)日本顕微鏡学会非会員で招待講演者の方は参加費および懇親会費無料です。
2)学生の方は、学生証(コピーでも可)を受付で提示してください。
日本顕微鏡学会会員の参加費は不課税となっております。

(2)懇親会費

  早期登録
2016年4月14日(木)
まで
通常登録
2016年4月15日(金)
~ 5月16日(月)
および当日登録
日本顕微鏡学会正会員 8,000円 9,000円
連携学会員(日本生物物理学会) 8,000円1) 9,000円1)
一般非会員 8,000円1) 9,000円1)
学生 日本顕微鏡学会学生会員 3,000円2) 4,000円2)
非会員(学部学生・大学院生) 3,000円2) 4,000円2)

1)日本顕微鏡学会非会員で招待講演者の方は参加費および懇親会費無料です。
2)学生の方は、学生証(コピーでも可)を受付で提示してください。

(3)発表要旨集費

早期登録
2016年4月14日(木)まで
通常登録
2016年4月15日(金)
~ 5月16日(月)
および当日登録
2,500円 3,000円

※予約申込分の要旨集も学術講演会会場にてお渡しします。

2.機器展示

学術講演会の会期中に顕微鏡および関連機器、その他の研究用機器、書籍等が展示されます。是非、ご覧ください。

3.冠ワークショップ

OT1. 公益財団法人風戸研究奨励会
6月14日(火) 13 : 30 ~ 16 : 30 E会場
OT2. 日本ローパー
6月14日(火) 15 : 00 ~ 15 : 30 A会場
OT3. メルビル
6月14日(火) 11 : 15 ~ 11 : 45 C会場
OT4. 日本FEI
6月15日(水) 11 : 15 ~ 11 : 45 C会場
OT5. 日本FEI
6月16日(木) 11 : 00 ~ 11 : 30 A会場
OT6. ブルカー・エイエックスエス
6月16日(木) 13 : 00 ~ 13 : 30 A会場
OT7. 日本ローパー
6月16日(木) 11 : 00 ~ 11 : 30 B会場

4.ランチョンセミナー

下記のスケジュールで、ランチョンセミナーを行います。

6月14日(火)12:00~13:00

A会場 日本エフイー・アイ
収差補正 S/TEM: Titan Themisを基軸にした最新の結像技術と解析手法への展開
アレックス ブライト(日本エフイー・アイ)
B会場 日本ローパー
Gatan社最新製品のご紹介
高内幸一(Gatan Inc.)
C会場 オックスフォード・インストゥルメンツ
EDS分析の垣根を超える~低エネルギーX線の利用と空間分解能~
三井千珠(オックスフォード・インストゥルメンツ)
森田博文(オックスフォード・インストゥルメンツ)
Simon Burgess(Oxford Instruments NanoAnalysis)
D会場 ライカ マイクロシステムズ
新型高圧 凍結装置を用いたクライオワーク フロー、及びCryo CLEM法の 活用と課題
伊藤喜子(ライカマイク ロシステムズ)
安永卓生(九州工業大学)
E会場 ブルカー・エイエックスエス
さまざまなスケールに対応したBruker-CT技術・アプリケーションのご紹介
森岡 仁(ブルカー・エイエックスエス)
F会場 カールツァイスマイクロスコピー
3D X-ray Microscopy Solutions for Materials Research
Jin Yoon(Carl Zeiss X-Ray Microscopy Inc.)
G会場 日本電子
JEM-F200 多機能電子顕微鏡とJEM-ARM200F ACCELARMの紹介
安原 聡(日本電子)
橋口裕樹(日本電子)
H会場 日立ハイテクノロジーズ/日立ハイテクサイエンス
日立FE-SEM&SPMリンケージ/最新トピックスのご紹介
振木昌成(日立ハイテクノロジーズ)
山岡武博(日立ハイテクサイエンス)

6月16日(木)12:00~13:00

A会場 日立ハイテクノロジーズ
日立TEM&FIB最新トピックスのご紹介
松本弘昭(日立ハイテクノロジーズ)
B会場 日本電子
新世代マルチパーパスFE-SEM JSM-7200Fの革新的技術
朝比奈 俊輔(日本電子)
軟X線による深さ状態分析と定量分析
髙橋 秀之(日本電子)
C会場 WITec
最新共焦点ラマン顕微鏡の高速/高分解能化の現状とAFMおよびSEMとの融合
中本圭一(WITec)
D会場 カールツァイスマイクロスコピー
ZEISS GeminiSEMが拓く新しい微細構造解析
Fang Zhou(Carl Zeiss Microscopy GmbH)
F会場 日本エフイー・アイ
The Use of Phase Plates in Cryo EM
Radostin Danev(Max Planck Institute of Biochemistry, Martinsried, Germany)
Preparing Cryo-TEM Lamellas for In Situ Structural Biology
Alexander Rigort(FEI, Munich, Germany)
G会場 日本ローパー
Gatan社の最新試料作製装置を使用した高品質、高スループットのSEM,TEM試料作製
高内幸一(日本ローパー)
藤谷 洋(日本ローパー)

★ランチョンセミナーの整理券は発行いたしません。
当日、当該会場前にお並びください。